专利摘要:
発明の少なくとも一つの実施形態によれば、装置は、第1、第2および第3の回路を含む。第1の回路は、入力データを受け取り、入力データに基づいてアサートされた複数の第1の信号を提供する。第2の回路は、複数の第1の信号を受け取り、複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供する。第3の回路は、入力データの分数のデータ重みを使用して第2の回路に対する制御を生成し、第2の回路は、第3の回路からの制御に基づいて、複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマッピングする。
公开号:JP2011514106A
申请号:JP2010549932
申请日:2009-03-08
公开日:2011-04-28
发明作者:セオ、ドンウォン;ダバグ、ハイグ−タニエル;マクアリスター、ジーン・エイチ.
申请人:クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated;
IPC主号:H03M1-74
专利说明:

[0001] 本開示は、概ね電子回路、および詳細には回路エレメントを動的に選択するための技術に関する。]
背景

[0002] デジタル−アナログ変換器(DAC)は、オーディオ、ビデオ、データ変換などのような様々なアプリケーションに対して広く使用される。DACは、デジタル入力データを受け取り、アナログ出力信号を提供する。DACのパフォーマンスは、全高調波歪(THD)、スプリアスフリーダイナミックレンジ(SFDR)、信号−ノイズ比(SNR)などのような様々な動的仕様によって定量されてもよい。]
[0003] NビットDACは、Nの二進法で重み付けられた回路エレメントを用いて実行されるとしてもよく、回路エレメントは、電流源、キャパシタ、レジスタなどでもよい。2進法の重み付けで、最も小さな回路エレメントは1単位のサイズを持ち、次の最も小さな回路エレメントは、2単位のサイズを持ち、最大の回路エレメントは、2N-1単位のサイズを持つ。各サンプル期間に、Nの回路エレメントの0以上は、デジタル入力データ値に基づいて選択され、そのサンプル期間におけるアナログ出力値を生成するために使用されるとしてもよい。DACのパフォーマンスは、Nの2進法で重み付けされた回路エレメントのサイズの精度に依存する。最大の回路エレメントのサイズは最も小さな回路エレメントのサイズの2N-1倍であるので、正確にこれらの回路エレメントをマッチさせることは難しいかもしれない。したがって、2進法で重み付けされたDACのパフォーマンスは、比較的貧弱かもしれない。]
[0004] また、NビットのDACは、等しいサイズの2N-1の回路エレメントを用いて実装されるとしてもよい。各サンプル期間において、xのデジタル入力データ値は、xの回路エレメントを選択し、そのサンプル周期におけるアナログ出力値を生成するとしてもよい。すべての回路エレメントは同じサイズであるため、これらの回路エレメントがマッチすることはより簡単かもしれない。それにもかかわらず、どれくらい緊密に2N-1の回路エレメントがマッチされるかには制限があるとしてもよい。したがって、いくつかのミスマッチは典型的にはこれらの回路エレメント間に存在する。ミスマッチがある状態においてパフォーマンスを改善するために、ミスマッチによるエラーが形成され帯域の外にプッシュされてもよいような方法で、回路エレメントは選択されてもよい。]
[0005] したがって、本開示は、回路エレメントミスマッチによる有害な効果を緩和するために、動的に回路エレメントを選択するための技術を提供する。]
概要

[0006] 本発明の例示的な実施形態は、動的に回路エレメントを選択するためのシステムおよび方法に導かれる。]
[0007] 実施形態によれば、装置は、第1、第2および第3の回路を含むとしてもよい。第1の回路は、入力データを受け取り、入力データに基づいてアサートされた複数の第1の信号を提供する。第2の回路は、複数の第1の信号を受け取り、複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供する。第3の回路は、入力データの分数のデータ重みを使用する第2の回路に対する制御を生成し、第2の回路は、第3の回路からの制御に基づいて複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマッピングする。]
[0008] 他の実施形態によれば、集積回路は、第1、第2および第3の回路を含むとしてもよい。第1の回路は、入力データを受け取り、入力データに基づいてアサートされた複数の第1の信号を提供する。第2の回路は、複数の第1の信号を受け取り、複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供する。第3の回路は、入力データの分数のデータ重みを使用して第2の回路に対する制御を生成し、第2の回路は、第3の回路からの制御に基づいて複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマッピングする。]
[0009] 他の実施形態によれば、方法は、入力データに基づいて複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートすること、入力データの分数のデータ重みを使用して制御を生成すること、制御に基づいて複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマッピングすること、複数の第2の信号に基づいて複数の回路エレメントのうちのゼロ以上を選択することを含むとしてもよい。]
[0010] 他の実施形態によれば、装置は、入力データに基づいて複数の第1の信号のうちの少なくともゼロ以上をアサートするための手段と、入力データの分数のデータ重みを使用して制御を生成するための手段と、制御に基づいて複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマッピングするための手段と、複数の第2の信号に基づいて複数の回路エレメントのうちのゼロ以上を選択するための手段とを含むとしてもよい。]
[0011] 他の実施形態によれば、デジタル入力データからアナログ出力データに変換するためのデジタル−アナログ変換器は、等しいサイズの第1の複数の回路エレメントと、第1のサーモメータデコーダと、第1のダイナミックエレメントマッチング(DEM)部を含むとしてもよい。等しいサイズの第1の複数の回路エレメントは、アナログ出力信号を生成するために使用される。第1のサーモメータデコーダは、デジタル入力データの少なくとも第1の部分を受け取り、複数の第1の信号を提供する。第1のDEM部は、複数の第1の信号を受け取り、第1の複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供する。第1のDEM部は、デジタル入力データの少なくとも第1の部分の分数のデータ重みに基づいて複数の第2の信号に対して複数の第1の信号をマップする。]
図面の簡単な説明

[0012] 添付の図面は発明の実施形態の記述を援助するために示され、もっぱら実施形態の例示のために提供され、それに限定されない。
図1は、サーモメータデコーディングを備えたDACのブロック図を示す。
図2は、Data weighted averaging(DWA)を備えたDACのブロック図を示す。
図3Aは、DWA部の設計を示す。
図3Bは、図3Aの選択信号ジェネレータのブロック図を示す。
図4は、ダイナミックエレメントマッチング(DEM)を備えたDACのブロック図を示す。
図5Aは、DEM部を備えた信号マッピング回路のブロック図を示す。
図5Bは、0の制御値について、第2/選択信号に対する第1/デコードされた信号のマッピングを示す。
図5Cは、1の制御値について、第2/選択信号に対する第1/デコードされた信号のマッピングを示す。
図5Dは、2の制御値について、第2/選択信号に対する第1/デコードされた信号のマッピングを示す。
図6Aは、DEM部を備えた制御回路のブロック図を示す。
図6Bは、本発明の実施形態に係る、2分の1の分数データ重み付けのために構成された図6Aのデータコントローラの設計を示す。
図7Aは、本発明の実施形態に係る回路エレメントの選択を例示する。
図7Bは、本発明の実施形態に係る回路エレメントの選択を例示する。
図8は、回路エレメントの動的な選択に対するプロセスを示す。
図9は、DEMを備えたDACのブロック図を示す。
図10は、本発明の実施形態に係るDACのブロック図を示す。
図11は、本発明の実施形態に係るDACのブロック図を示す。
図12は、無線通信装置のブロック図を示す。] 図1 図10 図11 図12 図2 図3A 図3B 図4 図5A 図5B
詳細な説明

[0013] 発明の態様は、以下の記述、および発明の特定の実施形態に向けられた関連する図面において開示される。代替の実施形態は、発明の範囲から外れることなく発明される。さらに、発明の有名なエレメントは、詳細に記述されないか、あるいは発明の適切な詳細を不明瞭にしないように省略されるだろう。]
[0014] 「典型的である」というワードは「例、実例あるいは例証として役立つ」ことを意味するためにここで使用される。「典型的である」としてここで説明されたどんな実施形態も、他の実施形態を超えて好ましい又は有利と必ずしも解釈されない。同様に、「発明の実施形態」の用語は、発明のすべての実施形態が議論された特徴、利点、動作方式を含むことを必要としない。]
[0015] ここで使用される用語は、特別の実施形態だけについて記述するためにあり、発明の実施形態に制限するようには意図されない。ここで使用されたように、単数形式「a」、「an」および「the」は、もし文脈が明白に他の状態を示さなければ、同様に複数形を含むように意図される。用語「具備する」「具備すること」「含む」および/または「含むこと」は、ここで使用される場合に、状態の特徴、完全体、ステップ、オペレーション、エレメントおよび/またはコンポーネントの存在を特定するが、1以上の他の特徴、整数、ステップ、オペレーション、エレメント、コンポーネント、および/または、それらのグループの存在または追加を除外しない。]
[0016] さらに、多くの実施形態は、例えば計算装置のエレメントによって実行されるアクションのシーケンスによって記述される。ここで記述される様々なアクションは、特定の回路(例えば特定用途向け集積回路(ASIC))、1以上のプロセッサによって実行されるプログラム命令、または、双方の組み合わせによって、実行されることができることは、認識されるだろう。さらに、ここで記述されるアクションのシーケンスは、保存されたこれらを持つコンピュータ可読記憶媒体の任意の形式内で完全に実現されるために考慮されることができ、実行時に、対応するコンピュータ命令のセットは、関連するプロセッサに、ここで説明される機能性を実行させるだろう。したがって、発明の種々の局面は、すべてが要求された主題の範囲内に存在するように検討された多くの異なる形式で具体化されてもよい。さらに、ここで説明される各実施形態に対して、任意のこのような実施形態の対応する形式は、例えば、記載されたアクションを実行する「ために構成されたロジック」として、ここで説明されるとしてもよい。]
[0017] ここで、記述されている動的なエレメント選択技術は、DAC、シグマデルタ(ΣΔ)DAC、アナルグ−デジタル変換器(ADC)、ΣΔ ADC、フィルタなどのような様々な回路に使用されてもよい。明瞭さのために、その技術は、DACについて下記で説明される。]
[0018] 図1は、サーモメータデコーディングを備えたDAC100のブロック図を示す。DAC100は、サーモメータデコータ110および出力回路120を含む。DAC100は、また、従来のDACとして参照されてもよい。デコーダ110は、Nビット入力データを受け取り、N>1およびK=2Nの場合に、K個の選択信号Sel0〜SelK-1を提供する。用語「信号」、「ライン」、「ワイヤ」などは、しばしば交換可能に使用される。各サンプル期間において、デコーダ110は、xの入力データ値を受け取り、最初のx個の選択信号Sel0〜Selx-1をアサートし、残りのK−x個の選択信号Selx〜SelK-1をデアサートするとしてもよい。各サンプル期間においてアサートする選択信号の数は、入力データ値に依存してもよい。さらに、最初のx個の選択信号がxの入力データ値に対してアサートされるように、選択信号は、所定の順序でアサートされてもよい。] 図1
[0019] 出力回路120は、それぞれ、K個の選択信号Sel0〜SelK-1を受け取るK個の回路エレメント122a〜122kを含む。各回路エレメント122は、電流源、スイッチ、キャパシタ、レジスタなど、あるいはそれの任意の組み合わせを具備するとしてもよい。各回路エレメント122は、それらの選択信号がアサートされた場合に、使用可能にされ、それらの選択信号がデアサートされた場合に、使用不可にされるとしてもよい。各回路エレメント122は、使用可能の場合、その出力を加算器124に提供する。加算器124は、K個の回路エレメント122a〜122kのすべての出力を加算し、アナログ出力信号を提供する。]
[0020] すべての回路エレメント122a〜122kが同じサイズを持つため、入力データにこれらの回路エレメントをマッチさせることは、2進法で重み付けされたDACに対するよりも簡単とすることができる。それにもかかわらず、どれくらい緊密に2N-1個の回路エレメントがマッチされるかには、制限があるとしてもよい。他の要因の中で、回路エレメントは、各回路エレメントに異なる程度で影響する機械的ストレスを引き起こすdie thinningおよびパッケージング/バンプを含む、様々な生産非画一性に従う。したがって、同一チップ上に製造された回路素子であっても同一にならず、したがって、これらの回路素子間のいくつかのミスマッチは典型的には存在する。ミスマッチのある回路素子の所定の選択順序は、入力データ値とアナログ出力エラーとの間の相関に結びつく。したがって、図1のような従来のDACのアナログ出力信号は、例えば貧弱なTHDなど、低下されたパフォーマンスを持つとしてもよい。]
[0021] 図2は、Data weighted averaging(DWA)を備えたDAC200のブロック図を示す。この開示にわたってより明らかになる理由のために、DAC200は、また、フルDWA DACとして参照されるとしてもよい。DAC200は、DWA部210と出力回路220を含む。DWA部210は、Nビットの入力データを受け取り、K個の選択信号Sel0〜SelK-1を提供する。各サンプル期間において、DWA部210は、xの入力データ値を受け取り、K個のうちのx個の選択信号をアサートする。各サンプル期間においてアサートする選択信号の数は、入力データ値に依存するとしてもよい。しかしながら、選択信号は、以下で説明されるように、DWA部210の現在状態と同様に、現在の入力データ値に基づいて、異なる順序でアサートされるとしてもよい。出力回路220は、K個の回路エレメント222a〜222kと、加算器224とを含む。K個の回路エレメント222は、DWA部210からのK個の選択信号によって動的に選択されるとしてもよい。] 図2
[0022] 図3Aは、N=3、K=8の場合における図2のDWA部210の設計を示す。この設計において、DWA部210は、それぞれ、8個の選択信号Sel0〜Sel7を生成する8個の選択信号ジェネレータ310a〜310hを含む。ジェネレータ310a〜310hは、また、それぞれ、ジェネレータG0〜G7として参照される。] 図2 図3A
[0023] 図3Bは、3ビット加算器312および3ビットレジスタ314を含む選択信号ジェネレータ310aのブロック図を示す。加算器312は、レジスタ314からの3ビット記憶値を持つ3ビット入力データ値を受け取りおよび加算し、3ビットの結果をレジスタ314に提供する。加算器312は、もし記憶値を持つ入力データの加算時にオーバーフローが存在すると、選択信号Sel0をアサートし、もしオーバーフローが存在しなければ、選択信号をデアサートする。] 図3B
[0024] 図3Aを戻って参照すると、ジェネレータG0〜G7はそれぞれ図3Bに示すように実装される。ジェネレータG0〜G7の中のレジスタは、それぞれ、ライン320に示すように、7〜0の段々に減少する値を用いて初期化される。図3Aに示される例において、最初の入力データ値は4であり、各ジェネレータのレジスタは、4で加えられ、ジェネレータG0〜G7におけるアップデートされたレジスタ値はライン322に示される。ジェネレータG0〜G3のレジスタは、4加算時にオーバーフローし、選択信号Sel0〜Sel3はアサートされる。2番目の入力データ値は2であり、各ジェネレータのレジスタは2で加えられ、ジェネレータG0〜G7におけるアップデートされたレジスタ値はライン324に示される。ジェネレータG4およびG5のレジスタは、2加算時にオーバーフローし、選択信号Sel4およびSel5はアサートされる。3番目の入力データ値は3であり、各ジェネレータのレジスタは3で加えられ、ジェネレータG0〜G7におけるアップデートされたレジスタ値はライン326に示される。ジェネレータG0,G6およびG7のレジスタは、3加算時にオーバーフローし、選択信号Sel0,Sel6およびSel7はアサートされる。] 図3A 図3B
[0025] 図3Aおよび3BのDWA設計は、8個の回路エレメントを通じて循環し、入力データ値によって指定されるのと同数の回路エレメントを選択する。ジェネレータG0〜G7内の8個のレジスタは、DWAユニット210の回路状態を記憶する。アサートされた最後の(または右端の)選択信号は、ゼロ値を用いてレジスタによって指定され、ゼロ位置として参照される。新しい入力データ値が受け取られる場合は常に、選択信号のうちのゼロ以上は、現在のゼロ位置のすぐ右側にある選択信号をスタートして、アサートされる。アサートする選択信号の数、すなわちゼロ位置をシフトする場所の数は、入力データ値に依存する。新しいゼロ位置は、以前のゼロ位置プラス現在の入力データ値に等しい。ゼロ位置は、入力データ値に基づいて左から右にシフトされ、右端の位置に到達した後、左にラップアラウンドする。] 図3A
[0026] ゼロ位置は、8個のジェネレータG0〜G7に対応する8個の可能な場所のうちの一つにあるとしてもよい。したがって、現在のゼロ位置に依存して、与えられた入力データ値を表わすための8つの異なる方法がある。どの選択信号をアサートするか(すなわち、どの回路エレメントを選択するか)は、レジスタの状態に基づいて入力データを表わす異なる可能な方法を通じて、擬似ランダム化される。]
[0027] フルDWA DACは、従来のDACを超えていくつかの利点を持つ。回路エレメントにおけるエラーは、入力データ値とアナログ出力エラーとが有効に相関しないとき、直線性エラーからノイズに変換される。これは、ノイズフロアを増加させるが、THDを改善する。しかしながら、フルDWA DACは、また、いくつかの欠点を持つ。フルDWA DACは、その選択信号がそれほど頻繁には変化しない従来のサーモメータデコーダDACと比較して、回路エレメントのスイッチングレートを増加させる。このことは、回路エレメントのより頻繁な充電および放電、すなわち増加したグリッチエネルギーと低下した動的パフォーマンスを引き起こす。]
[0028] さらに、図3Aおよび3BのフルDWA設計は、NビットDACに対するK個のNビット加算器およびK個のNビットレジスタを使用する。レジスタは、DACのパフォーマンスに逆方向に影響を与えることができる、強デジタルスイッチングノイズを生成してもよい。フルDWAユニットは、また、設定可能性を制限した。] 図3A
[0029] 図4は、ダイナミックエレメントマッチング(DEM)として参照される、動的エレメント選択を用いるDAC400の設計のブロック図を示す。この設計において、DAC400は、サーモメータ410、DEM部420出力回路450を含む。デコーダ410は、図1のデコーダ110に対して上述したような動作を行う。DEM部420は、K個のデコードされた信号、あるいは入力データを受け取り、K個の選択信号Sel0〜SelK-1を提供する。出力回路450は、K個の選択信号を受け取り、アナログ出力信号を生成する。出力回路450は、図1の出力回路120に対して上述したように、K個の選択信号によって選択されるK個の回路エレメントを含むとしてもよい。] 図1 図4
[0030] 図4に示す設計において、DEM部420は、信号マッピング回路430および制御回路440を含む。信号マッピング回路430は、デコーダ410からK個のデコードされた信号を受け取り、これらの信号を再整理し、擬似ランダム化を達成する。異なる回路作用は、異なる方式におけるK個のデコードされた信号を再整理することによって得られるとしてもよい。例えば、信号マッピング回路430は、以下で説明するように、K個のデコードされた信号を循環するとしてもよく、図3Aに示すDWA作用を達成する。制御回路440は、信号マッピング回路430のオペレーションを管理し、どのようにK個の選択信号が生成されるかに影響を及ぼす制御Zを生成する。制御回路440は、以下で説明するように、複数のオペレーションのモードを柔軟にサポートする。] 図3A 図4
[0031] 図5Aは、図4のDEM部420内の信号マッピング回路430の設計のブロック図を示す。明瞭化のために、図5Aは、N=3、K=8の場合における設計を示す。] 図4 図5A
[0032] サーモメータデコーダ410は、3ビットの入力データD0,D1およびD2と、8個のデコードされた信号Th0〜Th7を受け取る。デコーダ410は、入力データ値に基づいて、デコードされた信号Th0をスタートして、所定の順序でデコードされた信号をアサートする。表1は、それぞれありえる3ビットの入力データ値に対する8個のデコードされた信号Th0〜Th7の論理値を与える。表1に示されるように、デコーダ410は、1の入力データ値に対してただ一つのデコードされた信号Th0をアサートし、2の入力データ値に対して2つのデコードされた信号Th0およびTh1をアサートし、7の入力データ値に対して7つのデコードされた信号Th0〜Th6をアサートする。]
[0033] 信号マッピング回路430は、8個のデコードされた信号Th0〜Th7を受け取り、8個の選択信号Sel0〜Sel7を提供する。図5Aに示す設計において、信号マッピング回路430は、8個の8×1マルチプレクサ(Mux)530a〜530hを含み、それらは、また、マルチプレクサ0〜7として参照される。それぞれのマルチプレクサは、デコータ410から、8個のデコードされた信号Th0〜Th7をすべて受け取る。しかしながら、8個のデコードされた信号Th0〜Th7は、異なる順序でマルチプレクサ0〜7に提供され、アサートされた選択信号のローテーションを達成する。] 図5A
[0034] 8個のデコードされた信号は、8エレメントセットT0={Th0,Th1,Th2,Th3,Th4,Th5,Th6,Th7}によって表される。m位置による8個のデコードされた信号の循環性ローテーションは、セットT0における最初のmエレメントを取得することと、セットT0の端部へこれらmエレメントを移動することにより達成されるとしてもよく、これにより循環されたセットTmを求める。例えば、1位置の循環性ローテーションは、T1={Th1,Th2,Th3,Th4,Th5,Th6,Th7,Th0}のように与えられるとしてもよい。1位置によって循環された8個のデコードされた信号は、8個のマルチプレクサの入力1に提供される。包括的には、m位置によって循環された8個のデコードされた信号は、8個のマルチプレクサの入力mに提供され、ここで0≦m≦7である。]
[0035] 表2は、それぞれのマルチプレクサの8個の入力への8個のデコードされた信号のマッピングを与える。例えば、マルチプレクサ0は、入力0でデコードされた信号Th0を、入力1でデコードされた信号Th7を、入力7でデコードされた信号Th1などを受け取る。]
[0036] 8個のすべてのマルチプレクサ0〜7は、同じ3ビットの制御Zを受け取る。制御Zは、現在のゼロ位置を示し、以下に示すように生成されるとしてもよい。制御Zがmと等しい場合、マルチプレクサ0〜7の入力mのデコードされた信号は、それぞれ、選択信号Sel0〜Sel7として、提供される。したがって、マルチプレクサ0〜7は、制御Zによって示される現在のゼロ位置に基づいて、デコードされた信号Th0〜Th7を、選択信号Sel0〜Sel7にマップする。]
[0037] 図5Bは、制御Zが0と等しい場合の選択信号に対するデコードされた信号のマッピングを示す。デコードされた信号Th0〜Th7は、テーブルT2のZ=0における行によって示されるように、それぞれ、選択信号Sel0〜Sel7として、直接的に提供される。選択信号Sel0は1の入力データ値に対してアサートされ、その他、選択信号Sel0およびSel1は2の入力データ値に対してアサートされる。] 図5B
[0038] 図5Cは、制御Zが1と等しい場合の選択信号に対するデコードされた信号のマッピングを示す。デコードされた信号Th7,Th0,…,Th6は、テーブルT2のZ=1における行によって示されるように、それぞれ、選択信号Sel0〜Sel7として、提供される。選択信号Sel1は1の入力データ値に対してアサートされ、その他、選択信号Sel1およびSel2は2の入力データ値に対してアサートされる。] 図5C
[0039] 図5Dは、制御Zが2と等しい場合の選択信号に対するデコードされた信号のマッピングを示す。デコードされた信号Th6,Th7,Th0,…,Th5は、テーブルT2のZ=2における行によって示されるように、それぞれ、選択信号Sel0〜Sel7として、提供される。選択信号Sel2は1の入力データ値に対してアサートされ、その他、選択信号Sel2およびSel3は2の入力データ値に対してアサートされる。] 図5D
[0040] 制御Zの他の値における選択信号に対するデコードされた信号のマッピングは、表2に示される。異なる制御Zの値に対するデコードされた信号Th0の位置をシフトすることによって示されるように、異なる選択信号は、制御Zの異なる値に対してまずアサートされる。]
[0041] 図5Aに示される設計において、信号マッピング回路430が図3Aに示すDWA設計を実装できるように、8個のデコードされた信号Th0〜Th7は、マルチプレクサ0〜7の入力に対してマップされる。制御Zに対する8個のとりえる値は、表2におけるデコードされた信号Th0の位置によって示されるように、図3Aの8個のとりえるゼロ位置に対応する。マルチプレクサ0〜7は、制御信号における擬似ランダム化を達成するために、デコードされた信号を循環する。] 図3A 図5A
[0042] 図5Aは、マルチプレクサの入力に対するデコードされた信号のマッピングの一つの設計を示す。また、デコードされた信号は、異なる出力作用を達成するために、いくつか他のマッピングに基づいて、マルチプレクサの入力に対しマップされるとしてもよい。いくつかのケースにおいて、選択信号に対するデコードされた信号のマッピングは、動的に選択された出力回路150のK個の回路エレメントが、これらの回路エレメントにおけるミスマッチを除去するようにつとめることを可能にする。] 図5A
[0043] 図6Aは、図4のDEM部内の制御回路440の設計のブロック図を示す。この設計において、DEM部420は、表3に示すオペレーションのモードをサポートする。] 図4 図6A
[0044] DWAモードにおいて、ゼロ位置は、入力データ又はその所望の分数に基づいて更新され、選択信号は、現在のゼロ位置の選択信号をスタートして、アサートされる。擬似ランダムモードにおいて、ゼロ位置は擬似ランダムデータに基づいて更新され、選択信号は現在のゼロ位置の選択信号をスタートして、アサートされる。DWAモードおよび擬似ランダムモードは、どのようにゼロ位置が更新されるかにおいて異なる。また、ゼロ位置は、例えば、入力データと擬似ランダムデータとの結合に基づいて、固定されたゼロでない値に基づいて、など、他の方法で更新されてもよい。バイパスモードでは、選択信号は、本質的に、ランダム化なしで、サーモメータデコーディングに基づいて生成される。また、他のオペレーションのモードがサポートされるとしてもよい。例えば、ゼロ位置は、それぞれのサンプル期間において固定されたゼロでない値(例えば、1、2など)によって更新されるとしてもよく、したがって一定のレートでシフトされるとしてもよい。]
[0045] DEM部420内では、データコントローラ612は、入力データ、擬似ランダム数(PN)ジェネレータ610からの擬似ランダムデータ、モード選択信号を受け取る。モード選択信号は、所望のオペレーティングモードを示し、他のモード固有制御情報を提供する。データコントローラ612は、モード選択信号によって指定されるように、所望のオペレーティングモードに基づいて、加算器614に対して制御データを出力する。加算器614は、レジスタ616からの現在の制御値を用いて、データコントローラ612からの制御データを合計し、レジスタ616に対して更新された制御値を提供する。レジスタ616は、信号マッピング回路430に対し、Nビット制御Zとして現在の制御値を提供する。]
[0046] 加算器614は、データコントローラ612からの制御データに基づいて、ゼロ位置を更新するラップアラウンドアキュムレータを実装する。DWAモードにおいて、ゼロ位置は、データコントローラ612からの入力データの分数に基づいて更新される。擬似ランダムモードにおいて、ゼロ位置は、データコントローラ612からの擬似ランダムデータに基づいて更新される。バイアスモードにおいて、レジスタ616は、ゼロに初期化され、ゼロ位置は、データコントローラ612からの0を用いて更新され、したがって変化しない。]
[0047] PNジェネレータ610は、Nよりも大きい長さを持つ線形フィードバックシフトレジスタを用いて実装されるとしてもよい。LFSRは、どの原始多項式ジェネレータ関数を実装してもよい。LFSRのN個のLeast significant bit(LSB)は、Nビットの擬似ランダムデータとして提供されるとしてもよい。擬似ランダムデータは、ルックアップテーブルを用いるなど、他の方法で求められるとしてもよい。]
[0048] 図6Bは、発明の実施形態に係る2分の1の分数データ重み付けのために構成される図6Aのデータコントローラ612の設計を示す。図示されるように、データコントローラ612は、3ビットの入力データD0,D1およびD2と、2ビットの擬似ランダムデータP1およびP2と、3ビットのモード選択信号M0,M1およびM2とを受け取る。データコントローラ612は、所望のオペレーティングモードに基づいて、制御データC0,C1およびC2と、キャリーイン(carry-in)ビットを出力する。] 図6A 図6B
[0049] 上に議論されるように、モード選択信号は、他のモード固有情報を含むとしてもよい。例えば、与えられた入力データの分数が整数ではない(例えば、3のデータ入力値の2分の1は1.5であり、非自然のシフト量である)ため、モード選択信号は、非自然のシフトを扱うために分数の結果を丸めることをデータコントローラ612に指示するモード固有情報を含むとしてもよい。図6Bの実施形態において、分数のDWAは、それぞれ、切り上げモード又は切り下げモードにおいてシフト量を切り上げ又は切り下げるとしてもよい。この設計において、モード選択信号は、表4に示されるオペレーションモードを示す。] 図6B
[0050] 図6Bに示すように、データコントローラ612は、ANDゲート651および4つのマルチプレクサ653〜659を含み、マルチプレクサはモード選択信号のビットM1およびM0によって制御される。ANDゲート651は、入力としてビットM2およびD0を受け取り、マルチプレクサ653に論理AND値を出力する。マルチプレクサ653は、M1=1およびM0=0に対応するポート(ポート「10」)で論理AND値を、すべての他の入力ポートで「0」を、受け取る。マルチプレクサ653は、キャリーイン値を生成する。マルチプレクサ655は、ポート「00」で「0」を、ポート「01」でP0を、ポート「10」でD1を、ポート「11」でD0を、受け取る。マルチプレクサ655は、C0を生成する。マルチプレクサ657は、ポート「00」で「0」を、ポート「01」でP1を、ポート「10」でD2を、ポート「11」でD1を、受け取る。マルチプレクサ657は、C1を生成する。マルチプレクサ659は、ポート「00」「01」「10」で「0」を受け取り、ポート「01」でD2を受け取る。マルチプレクサ659は、C2を生成する。] 図6B
[0051] したがって、従来のサーモメータデコーディングモードでは、データコントローラ612は、キャリーイン=「0」、制御データC0=「0」,C1=「0」およびC2=「0」を出力する。制御Zはゼロのままであり、その初期状態におけるDWA400のゼロ位置を継続する。擬似ランダムモードでは、データコントローラ612は、キャリーイン=「0」、制御データC0=「P0」,C1=「P1」およびC2=「0」を出力する。制御Zはランダム値によって更新され、DWA400のゼロ位置をランダムにシフトする。]
[0052] 分数のDWA,切り下げモードでは、データコントローラ612は、キャリーイン=「0」、制御データC0=「D1」,C1=「D2」およびC2=「0」を出力する。したがって、制御Zは、切り下げされた入力データの半分と等しい量によって更新される。例えば、もし入力データが3(D0=1,D1=1およびD2=0)の場合、制御Zは0(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、一単位で、DWA400のゼロ位置をシフトする。このモードにおいて、選択信号はアサートされ、ゼロ位置はデータ重みの分数を用いて更新された。]
[0053] 分数のDWA,切り上げモードでは、データコントローラ612は、キャリーイン=「D0」、制御データC0=「D1」,C1=「D2」およびC2=「0」を出力する。したがって、制御Zは、切り上げられた入力データの半分と等しい量によって更新される。例えば、もし入力データが3(D0=1,D1=1およびD2=0)の場合、制御Zは1(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、2単位で、DWA400のゼロ位置をシフトする。このモードにおいて、選択信号はアサートされ、ゼロ位置はデータ重みの分数を用いて更新された。]
[0054] フルDWAモードでは、データコントローラ612は、キャリーイン=「D0」、制御データC0=「D0」,C1=「D1」およびC2=「D2」(すなわち、フル入力データ)を出力する。したがって、制御Zは、入力データと等しい量によって更新される。例えば、もし入力データが3(D0=1,D1=1およびD2=0)の場合、制御Zは0(キャリーイン値)および3(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、3単位で、DWA400のゼロ位置をシフトする。このモードにおいて、選択信号はアサートされ、ゼロ位置は図3Aおよび3BのフルDWA設計と類似して、フルデータ重みを用いて更新された。] 図3A
[0055] 図7Aは、ゼロ位置更新の進行、および連続する+4,+2,および+3の3ビット入力データに対する2分の1の分数DWA,切り下げモードにおける選択信号アサーションの一例を示す。] 図7A
[0056] 初期的に、状態712において、ゼロ位置はSel7に対応して設定され、制御Zはゼロに初期化される(すなわち、レジスタ616がクリアされる)。+4(D0=0,D1=1およびD2=1)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、0(キャリーイン値)および2(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、2単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel1に対応付ける。したがって、状態714において、選択信号Sel1,Sel0,Sel7,およびSel6は、信号マッピング回路430によってアサートされる。+2(D0=0,D1=1およびD2=0)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、0(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、1単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel2に対応付ける。したがって、状態716において、選択信号Sel2,およびSel1は、信号マッピング回路430によってアサートされる。+3(D0=1,D1=1およびD2=0)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、0(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、1単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel3に対応付ける。したがって、状態728において、選択信号Sel3,Sel2,およびSel1は、信号マッピング回路430によってアサートされる。]
[0057] 図7Bは、ゼロ位置更新の進行、および連続する+4,+2,および+3の3ビット入力データに対する2分の1の分数DWA,切り上げモードにおける選択信号アサーションの一例を示す。] 図7B
[0058] 初期的に、状態722において、ゼロ位置は再びSel7に対応して設定され、制御Zは再びゼロに初期化される(すなわち、レジスタ616がクリアされる)。+4(D0=0,D1=1およびD2=1)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、0(キャリーイン値)および2(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、2単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel1に対応付ける。したがって、状態724において、図7Aの切り下げモードと同様に、選択信号Sel1,Sel0,Sel7,およびSel6は、信号マッピング回路430によってアサートされる。+2(D0=0,D1=1およびD2=0)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、0(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、1単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel2に対応付ける。したがって、状態726において、図7Aの切り下げモードと同様に、選択信号Sel2,およびSel1は、信号マッピング回路430によってアサートされる。しかしながら、+3(D0=1,D1=1およびD2=0)の入力データがDWA400に入力された場合に、制御Zは、1(キャリーイン値)および1(制御データ値)の合計によって更新され、それによって、2単位でDWA400のゼロ位置をシフトし、Sel4に対応付ける。したがって、状態728において、図7Aの切り下げモードと対照的に、選択信号Sel4,Sel3,およびSel2は、信号マッピング回路430によってアサートされる。] 図7A
[0059] 図7Aおよび7Bに例示するように、ゼロ位置は、本発明の実施形態に係る分数のデータ重み付けを使用して図3Aおよび3BのDWA設計の場合よりも低い程度でシフトされるとしてもよい。以下でより詳細に議論される理由から、ある状態から他の状態へアサートされる選択信号においていくらかのオーバーラップを提供することは有利かもしれない。] 図3A 図7A
[0060] 制御Zを生成するために、入力データのフル重みに対抗するような分数の重みを使用することは、アプリケーションに依存して、いくつかの利点を持つだろう。また、たとえフルDWAモードよりも低い程度であっても、分数のDWAモードは、所望の分数重みに依存して、回路エレメントのランダム化を提供する。このことは、所望の分数の重みの程度依存について、線形エラーからノイズへの変換において従来のDACを超えてフルDWA DACの利点を維持し、入力データ値と任意のアナログ出力エラーとの間の相関を縮小することを助ける。加えて、以前に充電/放電された回路エレメントのいくつかはこれらの電流状態に維持される場合があるため、分数のDWAモードは、フルDWAモードと比較された場合に、回路エレメントの低下されたスイッチングレートを持つ、このことは、回路エレメントの頻繁な充電および放電による従来のDACと比較された場合のフルDWA DACのいくつかの不利益を緩和することを手助けする。本発明の実施形態に係る分数のDWAは、さらに所望の分数の重みに依存して、フルDWAモードよりも少なく、回路エレメントを充電および放電する。したがって、フルDWA DACと比較された場合に、分数のDWAモードで動作する本発明の実施形態に係るDEM部を実装するDACは、例えば改良されたTHDにように、改良された動的パフォーマンスを結果として生じる減少されたグリッチエネルギーを持つ。]
[0061] 前述の2分の1の分数の重み付けスキームが実例目的に提供されることは当業者によって高く評価され、本発明の各種の実施形態に係る各種の分数の重み付けスキームで使用される所望の分数重みを制限することは意図されない。所望の分数の重み付けは、データ重みの3分の1、4分の1、などでもよい。したがって、分数の重みと丸めモードとは、特定のアプリケーションのパフォーマンス要求にしたがって選択されるとしてもよく、従来のDACとフルDWA DACとの双方に関係する利点および欠点を交換する。ゆえに、アプリケーションに依存して、分数のDWAモードで動作する本発明の実施形態に係るDEM部を実装するDACは、従来のDACとフルDWA DACの双方を超えて有益であるとしてもよい。]
[0062] 図8は、例えばDAC又はいくつかの他の回路における回路エレメントを動的に選択するためのプロセス800の設計を示す。複数の第1の信号のうちのゼロ以上は、例えば、入力データに対してサーモメータデコーディングを実行することによって、入力データに基づいて、所定の順序でアサートされるとしてもよい(ブロック812)。制御は、制御データとともに制御の現在値を累積し、制御の新しい値を求める(ブロック814)。制御データは、入力データ、擬似ランダムデータ、固定された非ゼロ値、ゼロなどでもよい。複数の第1の信号は、制御に基づいて、複数の第2の信号に対してマップされる(ブロック816)。制御は、次の第2の信号を示すとしてもよく、次の入力データ値に対するアサートを行う。第1および第2の信号は、上述されたように、それぞれデコードされた信号および選択信号に対応付けられてもよい。複数の第1の信号は、制御によって決定された量によって循環され、複数の第2の信号として提供されるとしてもよい。複数の回路エレメントのうちのゼロ以上は、複数の第2の信号に基づいて選択されるとしてもよい(ブロック818)。DWAに対して、複数の第2の信号は、最後に選択された回路エレメントの直後の回路エレメントをスタートして、連続する順序で、複数の回路エレメントを選択するとしてもよい。アサートする第1の信号の数、ゆえにアサートする第2の信号の数は、入力データによって決定されるとしてもよい。] 図8
[0063] 図9は、DEMを持つDAC900の設計のブロック図と示す。この設計において、DAC900は、均等量のK個のリファレンス電流を生成するK個の電流源922を含む。K個のリファレンス電流におけるミスマッチは、K個のリファレンス電流を動的に選択することによって改善されるとしてもよい。] 図9
[0064] DAC900内で、Nビットフリップフロップ912は、Nビット入力データを受け取り、クロックを用いて入力データを計測し、各サンプル期間のN個のデータビットD0〜DN-1を提供する。サーモメータデコーダ914は、N個のデータビットを受け取り、K個のデコードされた信号Th0〜ThK-1を提供する。DEM部916は、K個のデコードされた信号Th0〜ThK-1を受け取り、K個の選択信号Sel0〜SelK-1を提供する。DEM部916は、図4〜6に示されるDEM部420を用いて実装される。] 図10 図11 図12 図4 図5A 図5B 図5C 図5D 図6A 図6B
[0065] K個のラッチ/ドライバ918は、K個の選択信号を受け取り、K個のスイッチ920に対してK個の制御信号を提供する。また、K個のスイッチ920は、K個の電流源922から、均等量のK個のリファレンス電流を受け取る。K個のスイッチ920のそれぞれは、その制御信号に基づいて、そのリファレンス電流を、Outp出力又はOutn出力のいずれかに向ける。ラッチ918は、Outp又はOutn信号におけるグリッチエネルギーの軽減のためにK個のレファレンス電流の同期のスイッチングを保証する。バイアス回路924は、K個の電流源922に対するバイアス電圧を生成する。]
[0066] 図9は、サーモメータデコーディングがNビットのすべてに対して実行されるDAC設計を示す。概ね、DACは、1以上のセクションを用いて実装されるとしてもよく、各セクションは、サーモメータデコーディング又はバイナリデコーディングを用いて実装されるとしてもよい。例えば、DACは、N=M+Lにおいて、Nの総ビットのうちのMの最大有効ビット(MSB)に対する第1のセクションと、Nの総ビットのうちのLのLSBに対する第2のセクションである2つのセクションを用いて実装されるとしてもよい。各セクションは、上述したように、サーモメータデコーディングとDEMを用いて実装されるとしてもよい。] 図9
[0067] 図10は、本発明の実施形態に係る一例DAC設計を例示する。この設計において、DEM部は、Mの最大有効ビットのみで動作する。この設計において、DEMを含む第1の回路は、図9のDAC設計に対する上述の方法において、データ入力DL〜DN-1で動作する。DAC1000の第1の回路内で、サーモメータデコータ1014aは、M個のデータビットDL〜DN-1を受け取り、DEM部1016に対してデコードされた信号を提供する。DEM部1016は、デコードされた信号を受け取り、ラッチ/ドライバ1018aに選択信号を提供する。DEM部1016は、図4〜6に示されるDEM部420を用いて実装されるとしてもよい。] 図10 図11 図12 図4 図5A 図5B 図5C 図5D 図6A 図6B
[0068] ラッチ/ドライバ1018aは、選択信号を受け取り、スイッチ1020aに対して制御信号を提供する。また、スイッチ1020aは、電流源1022aからの均等量のリファレンス電流を受け取る。スイッチのそれぞれは、その制御信号に基づいて、そのリファレンス電流を、Outp出力またはOutn出力のいずれかに向ける。ラッチ1018aは、Outp又はOutn信号におけるグリッチエネルギーの軽減のためにレファレンス電流の同期のスイッチングを保証する。バイアス回路1024aは、電流源1022aに対するバイアス電圧を生成する。]
[0069] DEM部を持たない第2の回路は、最小有効ビットのデータ入力D0〜DL-1で動作する。DAC1000の第2の回路内で、サーモメータデコータ1014bは、L個のデータビットD0〜DL-1を受け取り、ラッチ/ドライバ1018bにデコードされた信号を直接提供する。ラッチ/ドライバ1018bは、選択信号を受け取り、スイッチ1020bに対して制御信号を提供する。また、スイッチ1020bは、電流源1022bからの均等量のリファレンス電流を受け取る。スイッチのそれぞれは、その制御信号に基づいて、そのリファレンス電流を、Outp出力またはOutn出力のいずれかに向ける。スイッチ1020bの出力OutpおよびOutnは、スイッチ1020aの出力OutpおよびOutnに接続されており、一般的な出力パスを提供する。ラッチ1018bは、Outp又はOutn信号におけるグリッチエネルギーの軽減のためにレファレンス電流の同期のスイッチングを保証する。バイアス回路1024bは、電流源1022aに対するバイアス電圧を生成する。]
[0070] 最小有効ビットD0〜DL-1に対する回路エレメントを継続的に充電および放電する必要がない点で、このDAC設計は有利かもしれない。これらのビットは、サーモメータデコーダ出力信号の所定の順序により、ある状態から次へ継続的にアサートされることについて最もありえる。したがって、図10のDAC設計は、それぞれの入力データビットについて動作するDWA部を持つDACよりも比較的速いスイッチングレートを提供するとしてもよく、さらに下で議論されるランダム化利点のいくつかを保持する。] 図10
[0071] 電流源、スイッチ、およびラッチは、1次元である必要がないが、エレメントの多次元配列として実装されるとしてもよい。例えば、最大有効ビットMについて動作するDEM部を持つ図10の第1の回路は、スイッチおよび対応するラッチ/ドライバの2次元配列を使用して実装されるとしてもよく、複数の電流源を出力する。] 図10
[0072] 図11は、本発明の実施形態に係るスイッチの2次元配列の出力を制御するために、入力データの第1の部分について動作するDEM部を実装するDACの一例第1の回路を例示する。例示されるDAC1100の第1の回路のうち、サーモメータデコーダ1114aおよび1114bは、最大有効ビットMの部分を受け取る。例えば、もしN=12およびM=7の場合、サーモメータデコーダ1114aはビットD05〜D08を受け取るとしてもよく、サーモメータデコーダ1114bは、ビットD09〜D11を受け取るとしてもよい。サーモメータデコーダ1114aおよび1114bは、それぞれ、DEM部1116aおよび1116bに、対応するデコードされた信号を提供する。DEM部1116aおよび1116bは、それらのそれぞれのデコードされた信号を受け取り、それぞれ、列デコーダ1126aおよび行デコーダ1126bに対して選択信号を提供する。DEM部1116aおよび1116bは、図4〜6に示されるDEM部420を用いて実装されるとしてもよい。] 図10 図11 図12 図4 図5A 図5B 図5C 図5D 図6A 図6B
[0073] 列デコーダ1126aは、受け取られた選択信号を、m×nラッチ/ドライバ配列1118における対応する列をアサートするために使用される列選択信号Y0〜Ynにデコードする。同様に、行デコーダ1126bは、受け取られた選択信号を、m×nラッチ/ドライバ配列1118における対応する行をアサートするために使用される行選択信号X0〜Xmにデコードする。]
[0074] ラッチ/ドライバ1118は、その配列のアサートされた行および列に基づいて、スイッチ1120に対する制御信号を提供する。スイッチ1120は、電流源1122から均等量のリファレンス電流を受け取る。スイッチのそれぞれは、その制御信号に基づいて、そのリファレンス電流を、Outp出力またはOutn出力のいずれかに向ける。ラッチ1118は、Outp又はOutn信号におけるグリッチエネルギーの軽減のためにレファレンス電流の同期のスイッチングを保証する。バイアス回路1124は、電流源1122に対するバイアス電圧を生成する。]
[0075] 図11に示される部分的なDAC設計の多次元配列は、いくつかの潜在的な長所を持つ。例えば、行および列DEM部への分離は、選択された回路エレメントのランダム化の程度を増加させる。さらに、行および列デコーディング動作の前にDEM部を実装することによって、回路の複雑さは低減される。したがって、信号の集積化はより単純になり、および/または、インターフェース・ルーティングはより簡単になるだろう。] 図11
[0076] ここで説明された動的エレメント選択技術は、いくらかの利点を備えてもよい。その技術は、表3に与えられたような、異なるモードを柔軟にサポートするために使用されるとしてもよい。この技術は、さらに、信号マッピング回路および制御回路の設計において柔軟性によって様々なランダム化スキームをサポートするとしてもよい。さらに、制御回路は、ゼロ(バイパスモード用)または任意の値(他のモード用)に初期化されてもよく、図3Aに示されるDWA設計に対して要求されるような、特別の初期化回路構成に対する必要を回避する。この技術は、また、より少数のシーケンシャルロジックの使用により、より少ないスイッチングノイズを生成するとしてもよく、感知可能なアナログ回路に対するパフォーマンスを改善するとしてもよい。] 図3A
[0077] 本発明の様々な実施形態に係る前述のDAC設計は、従来技術を超えて、広帯域、低スプリアス電流の利点を提供する。]
[0078] ここで説明された技術は、無線通信装置、ハンドヘルド装置、ゲーム装置、コンピューティング装置、コンピュータ、ラップトップコンピュータ、コンシューマ電子装置などのような、各種の電子装置に対して使用されるとしてもよい。無線通信装置のための技術の典型的な使用が下記に述べられる。]
[0079] 図12は、無線通信システムにおける無線通信装置1200の設計のブロック図を示す。無線装置1200は、携帯電話、端末、ハンドセット、携帯情報端末(PDA)などとしてもよい。無線通信システムは、符号分割多元接続(CDMA)システム、Global System for Mobile Communications(GSM(登録商標))システムなどでもよい。] 図12
[0080] 無線装置1200は、受信パスおよび送信パスを経由して、双方向通信を提供可能である。受信パスにおいて、基地局(図示せず)によって送信された信号は、アンテナ1212によって受信され、受信機(RCVR)1214に提供される。受信機1214は、受信信号に条件付けて、特定用途向け集積回路(ASIC)1220にアナログ入力信号を提供する。送信パスにおいて、トランスミッタ(TMTR)1216は、ASIC1220からアナログ出力信号を受信し、条件付けて、変調された信号を生成し、これは基地局へアンテナ1212経由で送信される。]
[0081] ASIC1220は、例えば、受信ADC(Rx ADC)1222、送信DAC(Tx DAC)1224、モデムプロセッサ1226、縮小命令セットコンピューティング(RISC)プロセッサ、コントローラ/プロセッサ1230、内部メモリ1232、外部バスインタフェース1234、入力/出力(I/O)ドライバ1236、オーディオDAC/ドライバ1238、ビデオDAC/ドライバ1240のような、各種のプロセッシング、インタフェース、およびメモリユニットを含むとしてもよい。Rx ADC1222は、受信機1214からのアナログ入力信号をデジタル化し、モデムプロセッサ1226にサンプルを提供する。Tx DAC1224は、デジタルからアナログに、モデムプロセッサ1226からの出力チップを変換し、トランスミッタ1216にアナログ出力信号を提供する。モデムプロセッサ1226は、エンコーディング、変調、復調、デコーディングなど、データ送受信のための処理を実行する。RISCプロセッサ1228は、例えばビデオ、グラフィクス、高次レイヤアプリケーションなどに対する処理のような、様々なタイプの無線装置1200に対する処理を実行するとしてもよい。コントローラ/プロセッサ1230は、ASIC1220内の各種の処理とインタフェースユニットの動作を管理するとしてもよい。内部メモリ1232は、ASIC1220内の各種ユニットに対するデータおよび/または命令を記憶する。]
[0082] EBI1234は、ASIC1220とメインメモリ1244との間のデータの転送を促進する。I/Oドライバ1236は、アナログまたはデジタルインタフェース経由でI/O装置1246を運転する。オーディオDAC/ドライバ1238は、スピーカ、ヘッドセット、イヤーピースなどでもよいオーディオ装置1248を運転する。ビデオDAC/ドライバ1240は、液晶ディスプレイ(LCD)などでもよいディスプレイ部1250を運転する。RxADC1222、Tx DAC1224、オーディオDAC/ドライバ1238、ビデオDAC/ドライバ1240、および/または他のユニットは、ここで説明された技術を実装するとしてもよい。例えば、DACのいずれかは、図9〜11に示されているように実装されるとしてもよい。] 図10 図11 図9
[0083] ここで記述された技術は、集積回路(IC)、ASIC、デジタルシグナルプロセッサー(DSP)、デジタルシグナルプロセッシング装置(DSPD)、プログラマブルロジックデバイス(PLD)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、コントローラ、プロセッサ、および他の電子装置のような様々なハードウェアユニットに実装されるとしてもよい。ハードウェアユニットは、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)、NチャネルMOS(NMOS)、PチャネルMOS(PMOS)、バイポーラCMOS(Bi−CMOS)、バイポーラなどのような、各種のICプロセス技術において製作されるとしてもよい。ハードウェアユニットは、例えば、130ナノメータ(nm)、90nm、65nm、35nmなどのように、どのデバイスサイズ技術を用いて製造されてもよい。]
[0084] ここで記述された技術は、Tx DAC、ΣΔ DAC、オーディオDAC、ビデオDAC、計装DAC、RxADC、ΣΔ ADC、フィルタなどに対して使用されるとしてもよい。DACおよびADCは、P−FET、N−FET、バイポーラ接合トランジスタ(BJT)、ガリウム砒素トランジスタ、ヘテロ接合バイポーラトランジスタ(HBT)、高電子移動度トランジスタ(HEMT)などで実装されるとしてもよい。DACおよびADCは、また、アナログIC、デジタルIC、混合信号IC,無線周波数IC(RFIC)などのような、様々なタイプのICで製作されるとしてもよい。]
[0085] 以上の開示は、本発明の例示される実施形態を示しており、各種の変更および修正は、添付された請求項によって定義される発明の範囲から外れることなくここで行うことができることは、注意されるべきである。ここで説明された本発明の実施形態に係る方法請求項の機能、ステップ、および/またはアクションは、任意の特定の順序で実行されることを必要としない。さらに、本発明の要素はたとえ単数で説明または主張されていても、単数への制限が明示的に述べられていない限り、複数は熟考される。]
权利要求:

請求項1
入力データを受け取り、前記入力データに基づいてアサートされる複数の第1の信号を提供するための第1の回路と、前記複数の第1の信号を受け取り、複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供するための第2の回路と、前記入力データの分数のデータ重みを使用して、前記第2の回路に対する制御を生成するための第3の回路とを具備し、前記第2の回路は、前記第3の回路からの前記制御に基づいて、前記複数の第2の信号に対して、前記複数の第1の信号をマッピングする装置。
請求項2
前記分数のデータ重みは、ゼロ以上と前記入力データの値以下の間の値である、請求項1の装置。
請求項3
前記分数のデータ重みは、最も近い整数へ切り上げまたは下げられる、請求項2の装置。
請求項4
前記分数のデータ重みは、前記最も近い整数へ切り上げまたは下げられた前記入力データの2分の1である、請求項3の装置。
請求項5
前記複数の第2の信号は、連続の順序で、前記複数の回路エレメントを選択する、請求項1の装置。
請求項6
前記第1の回路は、前記入力データに基づいていくらかの第1の信号をアサートし、アサートされる第2の信号の数は、アサートされる第1の信号の数と等しい、請求項1の装置。
請求項7
前記第1の回路は、前記入力データについてサーモメータデコーディングを実行するように構成されており、前記複数の第1の信号としてサーモメータデコードされた信号を提供するように構成されている、請求項1の装置。
請求項8
前記第2の回路は、複数のマルチプレクサを含み、それぞれのマルチプレクサは、異なる順序で前記複数の第1の信号を受け取るように構成されており、前記複数の第2の信号のうちの一つを提供するように構成されている、請求項1の装置。
請求項9
前記複数のマルチプレクサは、前記第3の回路からの前記制御を受け取り、前記第2の信号として、前記制御によって決定された量により循環された前記複数の第1の信号を提供するように構成されている、請求項8の装置。
請求項10
前記複数の第1の信号は、前記入力信号の前記分数のデータ重みの値と等しい量によって循環される、請求項9の装置。
請求項11
前記第3の回路は、前記制御の現在値を記憶するレジスタと、前記入力データを受け取り、制御データを提供するためのデータコントローラと、前記データコントローラからの前記制御データおよび前記レジスタからの前記制御の現在値を合計し、前記レジスタに対して前記制御の新しい値を提供する加算器とを含む、請求項1の装置。
請求項12
前記制御データは、前記入力データの前記分数のデータ重みである、請求項11の装置。
請求項13
前記データコントローラは、前記制御データの丸めを制御するために前記加算器に対してキャリーインを提供し、前記加算器は、前記レジスタに対して前記制御の新しい値を提供するために、前記制御データ、前記制御の現在値、前記キャリーインを合計するように構成されている、請求項11の装置。
請求項14
前記データコントローラは、所望の丸めモードを示すモード選択信号に基づいて、「0」または前記入力データの第1のビットとしての前記キャリーインを生成するように構成されている第1のロジック装置と、前記入力データの第2のビットとしての前記制御データの第1のビットを生成するように構成されている第2のロジック装置と、前記入力データの第3のビットとしての前記制御データの第2のビットを生成するように構成されている第3のロジック装置と、「0」としての前記制御データの第3のビットを生成するように構成されている第4のロジック装置とを含む、請求項13の装置。
請求項15
前記第1ないし第4のロジック装置は、複数のマルチプレクサである、請求項14の装置。
請求項16
入力データを受け取り、前記入力データに基づいてアサートされる複数の第1の信号を提供するための第1の回路と、前記複数の第1の信号を受け取り、複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第2の信号を提供するための第2の回路と、前記入力データの分数のデータ重みを使用して、前記第2の回路に対する制御を生成するための第3の回路とを具備し、前記第2の回路は、前記第3の回路からの前記制御に基づいて、前記複数の第2の信号に対して、前記複数の第1の信号をマッピングする集積回路。
請求項17
前記分数のデータ重みは、ゼロ以上と前記入力データの値以下の間の値であり、最も近い整数へ切り上げまたは下げられる、請求項16の集積回路。
請求項18
前記第1の回路は、前記入力データについてサーモメータデコーディングを実行するように構成されており、前記複数の第1の信号としてサーモメータデコードされた信号を提供する、請求項16の集積回路。
請求項19
前記第2の回路は、前記第3の回路から前記制御を受け取り、前記複数の第2の信号として、前記入力データの前記分数のデータ重みの値と等しい量によって循環された、前記複数の第1の信号を提供するための複数のマルチプレクサをさらに具備する、請求項16の集積回路。
請求項20
前記第3の回路は、前記制御の現在値を記憶するためのレジスタと、前記入力データを受け取り、制御データを提供するためのデータコントローラと、前記データコントローラからの前記制御データと前記レジスタからの前記制御の現在値とを受け取って合計し、前記レジスタに対して前記制御の新しい値を提供するための加算器とを含み、前記制御データは、前記入力データの前記分数のデータ重みである請求項16の集積回路。
請求項21
前記データコントローラは、さらに、前記制御データの丸めを制御するために、前記加算器にキャリーインを提供するように構成されており、前記加算器は、前記制御データ、前記制御の現在値、および前記キャリーインを合計し、前記レジスタに前記制御の新しい値を提供する、請求項20の集積回路。
請求項22
入力データに基づいて、複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートすること、前記入力データの分数のデータ重みを使用して制御を生成すること、前記制御に基づいて、複数の第2の信号に対して前記複数の第1の信号をマッピングすること、前記複数の第2の信号に基づいて、複数の回路エレメントのゼロ以上を選択することを含む方法。
請求項23
最も近い整数に切り上げまたは切り下げられた、ゼロ以上と前記入力データの値以下の間の値としての前記分数のデータ重みを提供することをさらに具備する、請求項22の方法。
請求項24
前記複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートすることは、前記入力データのサーモメータデコーディングに基づいて、前記複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートすることを含む、請求項22の方法。
請求項25
前記複数の第2の信号に対して前記複数の第1の信号をマッピングすることは、前記複数の第2の信号として、前記入力データの前記分数のデータ重みと等しい量によって循環された、前記複数の第1の信号を提供することを含む、請求項22の方法。
請求項26
前記制御の新しい値を求めるために、前記入力データの前記分数のデータ重みとともに前記制御の現在値を累積することをさらに具備する、請求項22の方法。
請求項27
入力データに基づいて、複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートするための手段と、前記入力データの分数のデータ重みを使用して制御を生成するための手段と、前記制御に基づいて、複数の第2の信号に対して、前記複数の第1の信号をマッピングするための手段と、前記複数の第2の信号に基づいて、複数の回路エレメントのうちのゼロ以上を選択するための手段とを具備する、装置。
請求項28
最も近い整数に切り上げまたは切り下げられた、ゼロ以上と前記入力データの値以下の間の値としての前記分数のデータ重みを提供するための手段をさらに具備する、請求項27の装置。
請求項29
前記複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートするための手段は、前記入力データのサーモメータデコーディングに基づいて、前記複数の第1の信号のうちのゼロ以上をアサートするように構成されている、請求項27の装置。
請求項30
前記複数の第2の信号に対して前記複数の第1の信号をマッピングするための手段は、前記複数の第2の信号として、前記入力データの前記分数のデータ重みと等しい量によって循環された、前記複数の第1の信号を提供するように構成されている、請求項27の装置。
請求項31
前記制御の新しい値を求めるために、前記入力データの前記分数のデータ重みとともに前記制御の現在値を累積するための手段をさらに具備する、請求項27の装置。
請求項32
デジタル入力データをアナログ出力データに変換するためのデジタル−アナログ変換機(DAC)において、前記アナログ出力信号を生成するように構成されている、等しいサイズの第1の複数の回路エレメントと、前記デジタル入力データの少なくとも第1の部分を受け取り、複数の第1の信号を提供するための第1のサーモメータデコーダと、前記複数の第1の信号を受け取り、前記第1の複数の回路エレメントを選択するための複数の第2の信号を提供するための第1のダイナミックエレメントマッチング(DEM)部とを具備し、前記第1のDEM部は、前記デジタル入力データの前記少なくとも第1の部分の分数のデータ重みに基づいて、前記複数の第2の信号に対して、前記複数の第1の信号をマッピングする、DAC。
請求項33
前記第1のDEM部は、それぞれが異なる順序で前記複数の第1の信号を受け取るように構成されており、前記複数の第2の信号のうちの一つを提供するように構成されている複数のマルチプレクサと、前記デジタル入力データの前記少なくとも第1の部分の前記分数のデータ重みに基づいて、前記複数のマルチプレクサに対する制御を生成するための制御回路とを含む、請求項32のDAC。
請求項34
前記制御回路は、前記制御の新しい値を求めるために、前記制御の現在値とともに前記デジタル入力データの前記少なくとも第1の部分の前記分数のデータ重みを累積する、請求項33のDAC。
請求項35
前記第1の複数の回路エレメントは、均等量の電流を提供するための複数の電流源を含む、請求項32のDAC。
請求項36
前記第1の複数の回路エレメントは等しいサイズの複数のキャパシタを含む、請求項32のDAC。
請求項37
前記アナログ出力信号を生成するように構成されている、等しいサイズの第2の複数の回路エレメントと、前記デジタル入力データの第2の部分を受け取り、前記第2の複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第3の信号を提供するための第2のサーモメータデコーダとをさらに具備し、前記デジタル入力データの前記第1および第2の部分は重複がなく、それぞれ前記デジタル入力データの少なくとも1ビットを含む、請求項32のDAC。
請求項38
前記第2の複数の回路エレメントは等しい量の電流を提供するための複数の電流源を含む、請求項37のDAC。
請求項39
前記第2の複数の回路エレメントは等しいサイズの複数のキャパシタを含む、請求項37のDAC。
請求項40
前記アナログ出力信号を生成するように構成されている、等しいサイズの第2の複数の回路エレメントと、前記デジタル入力データの第2の部分を受け取り、複数の第3の信号を提供するための第2のサーモメータデコーダと、前記複数の第3の信号を受け取り、前記第2の複数の回路エレメントを選択するために使用される複数の第4の信号を提供するための第2のDEM部とをさらに具備し、前記デジタル入力データの前記第1および第2の部分は重複せず、それぞれ前記デジタル入力データの少なくとも1ビットを含み、前記第2のDEM部は前記デジタル入力データの前記第2の部分の分数のデータ重みに基づいて前記複数の第4の信号に対して前記複数の第3の信号をマップするように構成される、請求項32のDAC。
請求項41
前記第2のDEMは、それぞれが、異なる順序で前記複数の第3の信号を受け取り、前記複数の第4の信号のうちの一つを提供するように構成されている複数のマルチプレクサと、前記デジタル入力データの前記第2の部分の前記分数のデータ重みに基づいて、前記複数のマルチプレクサに対する制御を生成するための制御回路とを含む、請求項40のDAC。
請求項42
前記制御回路は、前記制御の新しい値を求めるために、前記制御の現在値とともに前記デジタル入力データの前記第2の部分の前記分数のデータ重みを累積する、請求項41のDAC。
請求項43
前記第2の複数の回路エレメントは等しい量の電流を提供する複数の電流源を含む、請求項40のDAC。
請求項44
前記第2の複数の回路エレメントは複数の等しいサイズのキャパシタを含む、請求項40のDAC。
請求項45
前記第1および第2の複数の回路エレメントを含み、前記アナログ出力信号を生成するように構成されている回路エレメント配列と、前記複数の第2または第4の信号のうちの一つに基づいて、前記回路エレメント配列の列を選択するために使用される複数の第5の信号を生成するための列デコーダと、前記複数の第2または第4の信号のうちの他のものに基づいて、前記回路エレメント配列の行を選択するために使用される複数の第6の信号を生成するための行デコーダとをさらに具備する、請求項40のDAC。
类似技术:
公开号 | 公开日 | 专利标题
KR102015680B1|2019-08-28|최대 가능도 비트-스트림 엔코딩을 이용한 직접 디지털 합성
Chen et al.2006|A low-power digit-based reconfigurable FIR filter
Ingino et al.1998|A continuously calibrated 12-b, 10-MS/s, 3.3-VA/D converter
US20150129748A1|2015-05-14|Multiple Data Rate Counter, Data Converter including the Same, and Image Sensor Including the Same
USRE42878E1|2011-11-01|Analog-to-digital converting system
US6522277B2|2003-02-18|Circuit, system and method for performing dynamic element matching using bi-directional rotation within a data converter
KR101749583B1|2017-06-21|시간차 가산기, 시간차 누산기, 시그마-델타 타임 디지털 변환기, 디지털 위상 고정 루프 및 온도 센서
Nazemi et al.2008|A 10.3 GS/s 6bit | time-interleaved/pipelined ADC using open-loop amplifiers and digital calibration in 90nm CMOS
US6894627B2|2005-05-17|Increasing the SNR of successive approximation type ADCs without compromising throughput performance substantially
US9444486B2|2016-09-13|Digital to analog converter comprising mixer
Ginsburg et al.2007|Dual time-interleaved successive approximation register ADCs for an ultra-wideband receiver
KR100825240B1|2008-04-25|아날로그 삽입법을 갖는 저전력 다이렉트 디지털신디사이저
Kwak et al.1997|A 15-b, 5-Msample/s low-spurious CMOS ADC
US7362251B2|2008-04-22|Method and system for digital to analog conversion for power amplifier driver amplitude modulation
KR20020075210A|2002-10-04|혼합 신호 집적 회로 장치
US7808410B2|2010-10-05|Current control circuit
Miller et al.2003|A multibit sigma-delta ADC for multimode receivers
EP1869769B1|2013-05-01|Improved radio frequency digital-to-analog converter
EP3104530B1|2020-05-27|Ultra low power dual quantizer architecture for oversampling delta-sigma modulator
Huang et al.2009|A 1.2 V 2MHz BW 0.084 mm 2 CT ΔΣ ADC with− 97.7 dBc THD and 80dB DR using low-latency DEM
US7098828B2|2006-08-29|Complex band-pass ΔΣ AD modulator for use in AD converter circuit
Kim et al.2016|A 0.6 V 12 b 10 MS/s low-noise asynchronous SAR-assisted time-interleaved SAR | ADC
US8659464B2|2014-02-25|Analog-digital converter and converting method using clock delay
US10250272B2|2019-04-02|Localized dynamic element matching and dynamic noise scaling in digital-to-analog converters |
US7030799B2|2006-04-18|Current-steering digital-to-analog converter
同族专利:
公开号 | 公开日
TW200945796A|2009-11-01|
CN101960722A|2011-01-26|
KR101249161B1|2013-03-29|
WO2009151670A2|2009-12-17|
CN101960722B|2013-11-13|
WO2009151670A3|2010-02-04|
US20090224953A1|2009-09-10|
EP2269311B1|2012-06-20|
KR20100121691A|2010-11-18|
US7868806B2|2011-01-11|
JP5074602B2|2012-11-14|
EP2269311A2|2011-01-05|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
EP1179889B1|2000-08-10|2004-11-17|SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.r.l.|Digital-to-analog conversion circuit|JP2016144032A|2015-02-02|2016-08-08|アルプス電気株式会社|データ加重平均回路及びこれを有するデジタルアナログ変換器|GB9209498D0|1992-05-01|1992-06-17|Univ Waterloo|Multi-bit dac with dynamic element matching|
JP3469326B2|1994-08-16|2003-11-25|バー−ブラウン・コーポレーション|デジタル−アナログ変換器|
GB9803928D0|1998-02-26|1998-04-22|Wolfson Ltd|Digital to analogue converters|
US6348884B1|1999-01-06|2002-02-19|Jesper Steensgaard-Madsen|Idle-tone-free mismatch-shaping encoders|
US6441761B1|1999-12-08|2002-08-27|Texas Instruments Incorporated|High speed, high resolution digital-to-analog converter with off-line sigma delta conversion and storage|
US6424283B2|2000-07-20|2002-07-23|Texas Instruments Incorporated|Segmented high speed and high resolution digital-to-analog converter|
US6535155B2|2001-06-27|2003-03-18|Nokia Corporation|Method and apparatus for suppressing tones induced by cyclic dynamic element matching algorithms|
US6614377B1|2002-02-08|2003-09-02|Analog Devices, Inc.|Data-directed scrambler for noise-shaping mixed-signal converters with an arbitrary number of quantization levels|
KR20030086896A|2002-05-03|2003-11-12|톰슨 라이센싱 소시에떼 아노님|온도계 코드 디지털-오디오 변환기|
US6819276B1|2003-05-13|2004-11-16|Analog Devices, Inc.|Noise-shaper system and method|
US7576671B2|2005-08-19|2009-08-18|Intrinsix Corporation|Mismatch-shaping dynamic element matching systems and methods for multi-bit sigma-delta data converters|
US8094052B2|2007-05-03|2012-01-10|Qualcomm, Incorporated|Circuit and method for dynamically selecting circuit elements|US8159381B2|2010-05-12|2012-04-17|Stmicroelectronics Pvt. Ltd.|Glitch free dynamic element matching scheme|
CN102394653B|2011-11-23|2014-01-08|北京大学|数模转换器及数模转换方法|
US9008221B2|2013-04-01|2015-04-14|Honeywell International Inc.|Spurious frequency attenuation servo|
KR20160105654A|2015-02-27|2016-09-07|에스케이하이닉스 주식회사|신호 조합 회로 및 이를 이용한 디지털-아날로그 변환 회로|
US9484947B1|2015-09-29|2016-11-01|Analog Devices, Inc.|Variable length dynamic element matching in digital-to-analog converters|
CN108696280B|2017-04-11|2020-10-30|清华大学|Digital-to-analog converter|
US10763890B2|2017-11-10|2020-09-01|Regents Of University Of Minnesota|Computational devices using thermometer coding and scaling networks on unary encoded data|
US10763884B2|2018-07-23|2020-09-01|Mediatek Inc.|High linearity digital-to-analog converter with ISI-suppressing method|
US10298257B1|2018-12-17|2019-05-21|Nxp Usa, Inc.|SNDR improvement through optimal DAC element selection|
法律状态:
2012-03-21| A977| Report on retrieval|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120321 |
2012-03-28| A131| Notification of reasons for refusal|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120327 |
2012-06-26| A521| Written amendment|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120625 |
2012-07-20| TRDD| Decision of grant or rejection written|
2012-07-25| A01| Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120724 |
2012-07-26| A01| Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
2012-08-30| A61| First payment of annual fees (during grant procedure)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120823 |
2012-08-31| R150| Certificate of patent or registration of utility model|Ref document number: 5074602 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
2012-09-03| FPAY| Renewal fee payment (event date is renewal date of database)|Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150831 Year of fee payment: 3 |
2015-08-11| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2016-08-09| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2017-08-15| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2018-08-14| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2019-08-31| LAPS| Cancellation because of no payment of annual fees|
优先权:
申请号 | 申请日 | 专利标题
[返回顶部]